Microscopio electrónico de barrido
Microscopio electrónico de barrido
El
microscopio electrónico de barrido (
MEB o
SEM, por
Scanning Electron Microscope), es una técnica de
microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Utiliza un haz de
electrones en lugar de un haz de
luz para formar una imagen.