Latch-Up-Effekt

Der Fachbegriff Latch-Up-Effekt (von englisch „einrasten“, auch , SEL) bezeichnet in der Elektronik den Übergang eines Halbleiterbauelements, wie beispielsweise in einer CMOS-Stufe, in einen niederohmigen Zustand, der zu einem elektrischen Kurzschluss führen kann. Wenn Schutzmaßnahmen fehlen, führt der Latch-Up-Effekt zur thermischen Zerstörung des Bauteils.