Ein
Rastertransmissionselektronenmikroskop (
RTEM; ,
STEM) ist ein
Elektronenmikroskop, bei dem ein
Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert. Als Bildsignal werden in der Regel die durch die Probe transmittierten Primärelektronen benutzt, deren Strom synchron zur Position des Elektronenstrahles gemessen wird. Der Bildentstehung nach handelt es sich um eine Unterform des
Rasterelektronenmikroskops (REM), der Untersuchungsgeometrie nach um ein Transmissionsmikroskop. An die Proben werden die gleichen Anforderungen bezüglich Durchstrahlbarkeit gestellt wie beim
Transmissionselektronenmikroskop (TEM; zur Abgrenzung oft auch als ,
CTEM, bezeichnet).